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如何判断X光平板探测器质量与相关性能

来源:http://www.lustervision.com    日期:2015-10-08    点击次数:

在对X光平板探测器使用的时候,明确X光平板探测器性能,是首要考虑的问题。因为成像质量如何,与相应的性能指标,有着密切的联系。通常情况下,成像的性能指标主要有两个,分别是量子勘测和空间分辨率。同时相应的性能指标,是决定成像好坏,非常重要的因素所在。当然在对探测器使用的时候,还应该要对具体的密度有所考虑。在日常的使用过程中,如何对X光平板探测器性能进行判断,具体判断方法有哪些,是很多人士,非常关心的问题。
  首先可以直接对平板测量器进行变换,而变换成X线换成电信号的话,就会发生一定的物理变化。总体来说,在日常使用过程中,要明确具体的要素,相对而言显得非常重要。另外在日常使用的时候,还应该要明确,影响探测器空间分辨率,具体的要素有哪些。一般情况下,空间分辨率将决议于单位面积的巨细。矩阵越大的话,那么晶体管的个数越多。
  其次进行量子探测功率,与空间分辨率有着密切的关联。X光平板探测器有着自身独有的特色,相应的空间分辨率不同的情况下,具体的改变自然会有所不同。而在进行计算的时候,应该要明确相应的计算公式。而在具体的公式当中,要对具体的函数表示有所了解。主要包括了信号强度、调制传递函数、曝光强度等。而从整个计算结果可以看出,整体灵敏度较高,因此计算结果精确度要高一些,确保数据的真实性。
  最后探测器有着直接变换的功能,但是具体的极限较高。同时伴随着空间分辨率的改变,相应的值数自然会有所降低。在对高分辨率计算的时候,应该要注意转换公式,防止在转换过程中,出现错误的情况。而这也是探测器优点中,非常重要的一点。
  总之在对X光平板探测器进行使用的时候,应该要综合性考虑,不仅要明确探测器的优点,同时还应该要明确具体的工作原理。