科学级定制测试平台
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Themis Pro光电测试系统

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凌云EMVA1288测试系统,是一款基于EMVA1288机器视觉标准研发的专业光电测试系统,可测试相机及图像传感器(芯片)的光电参数。

该款专为高端科研用户以及高端相机生产商研制的科学级定制测试平台,可根据客户需求,定制模块化方案。可测试任意传感器尺寸;滤波轮控制自动化,可根据需求选择任意波长滤光片;可测试任意光学接口和数据接口;可对EMVA1288全参数、MTF、Image Lag、Optical Crosstalk等项目进行高精度测试,最大化的满足用户的测试需求。


Themis 相机光电参数测试项目

测试项目

测具体参数

单位

时域测试结果

总增益

DN/e-

随机噪声

DN

e-

饱和输出

最大

DN

ke-

线性

DN

ke-

动态范围

最大

X(倍数)

dB

线性

X(倍数)

dB

最大信噪比

X(倍数)

dB

非线性度

%

1288定义坏点

统计个数与位置信息

空域测试结果

DSNU1288

DN

e-

PRNU1288

%

量子效率测试结果

量子效率QE

%

响应度R

DN/PH

暗电流测试结果

暗电流

e-/s



Themis Pro系统参数表

操作软件

Themis 光电参数测试系统操作软件

可测传感器类型

CCD/CMOS(黑白/彩色均可)

可测传感器尺寸

对角线≤180mm

暗室

满足EMVA1288测试要求,提供测试要求的暗室环境;

光源

积分球光源提供99%以上均匀度的光照

滤光片

标配436nm546nm750nm850nm滤光片组;其他谱段,可根据用户需求再定制

支持相机光学接口

任意接口

支持数据接口

GigEUSB3.0Camera link Full1394等,可定制

工控机

64G SSD+1T机械硬盘

Ups

支持紧急断电后,工控机30min续航,保障测试数据安全

工作温度

0~50

电源

220V

外形尺寸

4000mm×2300mm×2215mm

重复精度

>95%

误差

3%

传感器(芯片)

可测

拓展测试

MTFEMCCD、单色仪、成像测试等拓展项目

相机对比测试

相机性能测试

芯片选型测试

芯片性能测试